x射线发生装置的分类
X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样,主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理:在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Kα辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射,由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律,也即解出晶体的结构。
x射线发生装置解决哪些问题?
(1)当材料由多种结晶成分组成,需区分各成分所占比例,可使用XRD物相鉴定功能,分析各结晶相的比例。
(2)很多材料的性能由结晶程度决定,可使用XRD结晶度分析,确定材料的结晶程度。
(3)新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标。
(4)产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象,可能涉及微观应力方面影响,使用XRD可以快捷测定微观应力。
(5)纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。
x射线发生装置-地质,矿产
在研究行星进程和地球构造过程中,地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。X射线衍射仪分析技术如:小点激发,分布分析和无标定量分析,日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。X射线衍射仪(XRD)可定量测量相组成。X射线衍射数据的Rietveld分析被认为是晶体相定量分析适合的方法。技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。
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