鹤岗EDX8000T Plus镀层测厚仪欢迎来电「英飞思科学」一笑而过

1分钟前 鹤岗EDX8000T Plus镀层测厚仪欢迎来电「英飞思科学」[英飞思科学66089b4]内容：

>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>电镀液分析

>镀层，如金基上的铑材料分析

>电镀液分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能

英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。