原子力显微镜是一种扫描探针显微镜（SPM），其中探针跟随材料表面，以检测探针和材料之间的原子力，从而生成材料表面的图像。与光学显微镜相比，扫描探针显微镜具有极高的空间分辨率，能够在原子水平上检查表面轮廓。此外，原子力显微镜是一种扫描探针显微镜，能够测量绝缘材料。
通过将SLD发出的光发射到带有探针的悬臂梁的后侧，并使用位置传感器检查反射的激光，可以更好的地检查探针的移动，从而以纳米级的精度观察物质表面。
在普通半导体激光二极管中，由于腔体两端面的反射作用会形成法布里－珀罗谐振，当注入电流高于阈值电流时，端面输出增大，会形成激光。但在 SLD 中，通过处理，器件后端面处的反射强度不足以形成光的反馈谐振，因此SLD输出的是非相干光。
所以，SLD是一种宽光谱、弱时间相干性、大功率、高的效率的半导体光发l射器件。其光学性质介于 LD 和 LED 之间，具有比 LD 更宽的发光光谱和更短的相干长度，比 LED 有更高的输出功率，更高的调制带宽。
OCT的核l心是光纤迈克尔逊干涉仪，低相干光源(宽带光源)超辐射发光二极管(Superluminescence Diode，SLD)发出的光耦合进入单模光纤，被2×2光纤耦合器均分为两路，一路是经透镜准直并从平面反射镜返回的参考光，另一路是经透镜聚焦到被测样品的采样光束。
由反射镜返回的参考光与被测样品的后向散射光在探测器上汇合，当两者之间的光程差在光源相干长度之内时则发生干涉，探测器输出信号反映介质的后向散射强度。
扫描反射镜并记录其空间位置，使参考光与来自介质内不同深度的后向散射光发生干涉。根据反射镜位置和相应的干涉信号强度即获得样品不同深度(z方向)的测量数据，再结合采样光束在x-y平面内的扫描，通过软件系统对干涉仪的输出进行探测、收集、处理和存贮。将采集到的数据点整合构成一幅视l网膜解剖剖面图(干涉图)，图像显示为伪彩色断层图像，颜色对应反射信号的强弱。