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山西泄漏检测器服务周到「多图」进入淘宝网官网首页

   日期:2024-03-11     作者:苏州特斯特    浏览:39    评论:0    
核心提示:6分钟前 山西泄漏检测器服务周到「多图」[苏州特斯特31ff5f9]内容:热阻测试仪应用范围:各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFE
6分钟前 山西泄漏检测器服务周到「多图」[苏州特斯特31ff5f9]内容:热阻测试仪应用范围:各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。  各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。  各种复杂的散热模组的热特性测试,如热管、风扇等。  半导体器件结温测量。  半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。  半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数。  半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断,帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。  材料热特性测量(导热系数和比热容)。  接触热阻测量,包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。

热阻分析仪,如果应用于材料叫材料热阻分析仪,如果用于半导体分立器件称为半导体热阻分析仪,进行热测量半导体封装设备使用电交界处的温度测量方法。这些热测试包括稳态热阻,瞬态热阻抗,和芯片粘接质量检查。组件测试服务可以为半导体热表征客户装置在我厂实验室做测试。我们还提供完整系列的配件,半导体器件的热特性对所有类型的设备从集成电路分立功率器件。所有产品符合美准和适用。主要用于测试二极管,三极管,LED二极管,可控硅,MOSFET,IGBT,IC等分离功率器件的热阻测试。

微焦点技术的优势

1、 通过使被透照物体靠近射线源,远离胶片,获得放大的原始细节图像。减轻检测疲劳。

2、 对于一定厚度的被透照物体,微焦点可以放大被检测物的细节提供更一致的清晰度。

微焦点x射线设备具备图像放大,提高空间分辨力,减少散射的能力,从而使它成为工业CT系统的理想射线源。

X-RAY WorX GmbH是德国高科技研发型公司,研发了具有超高灵活性、超高稳定性、超高精度的开放式微焦点X射线管,分为透射式微焦点X射线管、反射式微焦点X射线管、头X射线管和棒阳极微焦点X射线管。可根据不同的应用,选择不同的靶功率(10W、15W、25W、50W、300W等)和电压(65W、100kV、160kV、190kV、225kV、240kV和300kV等)。

所谓的微焦点X射线机是焦点尺寸可以达到几个微米,并且能够在0~225kV或更高恒电压模式下,以一定的功率(通常高为320W)连续工作的X射线机。 微焦点X射线机的焦点尺寸通常可以连续可调,从几微米直到0.2毫米或更高。

与常规X射线管相同,微焦点X射线管的阳极也是用循环油或水来冷却。 与常规X射线机不同的是,用于无损检测的微焦点X射线管是用真空泵来维持X射线管内的真空度(约为10-7)。 微焦点X射线管可以很方便的打开(即开放式或称为开管),用来更换不同的靶材以产生不同的X射线频谱;更换不同形状及大小的X射线窗口;以及更换阳极的类型… 如换上各种直径和长度的棒阳极,以满足不同检测任务的需要。 这些阳极棒的长度可达1500毫米,直径可从18毫米一直小到4毫米。使用如此小的棒阳极,我们可以用单壁内透照方式,以的缺陷检测灵敏度进行射线检测。

原文链接:http://www.qiudei.com/news/239531.html,转载和复制请保留此链接。
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