对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C₃H₆O进行清洗，用滤纸擦干，保持表面清洁，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定)，调整试样，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换至高放大倍数对试样聚焦，调整载物台及试样，使人工缺陷处于视场中央。调整测量设备，使测量面聚焦清晰，选择测量点位。
对比试样校准概述
是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；
对比试样校准测量结果差别大？
探头的放置方法对测量有很大影响，在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长，避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头，由于这么不仅对探头会形成磨损，也不会得到的测量成果。别的，基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常，假如离电磁场十分近时还有也许会死机。
对比试样校准使用注意事项
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。